技術名稱基於深度卷積網路之自動化光學檢測模組v1.0 產出年度2020 現況敘述透過深度學習中卷積網路進行影像內容樣態學習與辨識 可應用範圍可用來對物體表面進行瑕疵偵測,如胚布瑕疵檢測、電子元件表現瑕疵檢測 聯絡姓名楊青翰 聯絡電話(02)6607-3678 聯絡信箱chyang@iii.org.tw 公告日期2020/09/25