2024.09.10

晶片旁通道檢測

方案簡介

隨著硬體具有加密運算能力的普及,駭客轉而針對已封裝晶片旁通道攻擊已經成為一個常用的非侵入式手法。為了評估硬體對於旁通道攻擊的抵禦能力,許多法規已納入相關測試,但傳統評估方法複雜且耗時。本技術藉由AI技術的導入,能透過分析晶片數據,自動辨識加密演算法和訊號位置,加速評估流程,並降低對專業知識的需求,讓更多人能參與其中。

功能說明

非侵入式安全
非侵入式安全指的是在不破壞設備的情況下保護其免受攻擊的技術。旁通道攻擊利用設備執行操作時洩露的物理信息,如功耗、電磁輻射等,來推測與挖掘敏感資訊
自動定位加密訊號
旁通道加密訊號的自動化定位,能夠自動化定位加密訊號區間,以減少專業人力的介入,降低檢測的投入門檻
洩漏合規評估
晶片的旁通道分析目的用來評估晶片洩漏程度,進行相關安全規範的測試評比,以達到晶片安全合規的目的

使用案例

非侵入式安全領域的旁通道檢測技術,為什麼在晶片供應鏈中很重要?
隨著晶片設計和製造的複雜性不斷增加,這些技術被用來檢測並防禦潛在的旁通道攻擊,確保晶片的完整性和數據安全。晶片供應鏈中的各個環節,包括設計、製造、測試和分銷,都可以通過這些技術來防範非授權的數據存取和竊取。
旁通道檢測技術如何辨識晶片可能存在的安全漏洞?
在晶片測試階段,旁通道檢測技術能夠識別出可能導致安全漏洞的電磁泄露或功耗變化,從而防止惡意攻擊者通過這些旁通道進行訊號推測。未來,隨著量子計算和人工智慧技術的進步,旁通道檢測將在保障高級別晶片安全性方面發揮更大的作用。

聯繫資訊

資安科技研究所

廖建維

(02) 6607-8934

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