2021.11.04
摘要
一種異常評估系統與異常評估方法，該系統連接一影像擷取裝置，包含複數分類模型與一處理模組，各該分類模型係由監督式學習與非監督式學習交替訓練而產生，該些分類模型的參數彼此不同，該處理模組連接該些分類模型，從該影像擷取裝置接收一待測影像，將該待測影像輸出至該些分類模型而分別得到複數待測特徵向量，以產生一異常評估資訊。技術分類 / 子分類
發明
獲證
110141070
發明第I806220號
申請日期
2021.11.04專利權期限
2041.11.03研發成果公告日期
2023.11.10