2024.11.19
摘要
一種旁通道洩漏評估裝置及方法，該裝置將一測試集分類為包含一第一明文以及複數個第一金鑰的一第一測試集以及包含一第二金鑰以及複數個第二明文的一第二測試集。該裝置量測一待測電路以取得對應該第一測試集的複數個 第一旁通道訊號以及對應該第二測試集的複數個第二旁通道訊號。該裝置基於第一旁通道訊號及第二旁通道訊號的複數個訊號功率，計算第一功率分布及第二功率分布。該裝置基於第一功率分布及第二功率分布的極值，判斷該待 測電路是否具有一旁通道洩漏風險。技術分類 / 子分類
發明
獲證
2039112
NL2039112
申請日期
2024.11.19專利權期限
2044.11.18研發成果公告日期
2026.11.13